Đăng nhập để tải tài liệu không giới hạn
Tham gia 8.000+ người dùng Thư Viện Luận Án
NGHIÊN CỨU PHƯƠNG PHÁP XÁC ĐỊNH CÁC THAM SỐ CỦA VẬT LIỆU SỬ DỤNG SÓNG ĐIỆN TỪ Ở DẢI SIÊU CAO TẦN
Kỹ thuật điện tử
Luận án này tập trung vào nghiên cứu và phát triển các phương pháp xác định tham số điện môi phức và từ thẩm phức của vật liệu sử dụng sóng điện từ ở dải siêu cao tần (SHF). Nhu cầu này phát sinh từ yêu cầu thiết kế các mạch điện tử tích hợp tần số cao, nơi mà các đặc tính vật liệu nền do nhà sản xuất cung cấp thường không đủ chi tiết hoặc không phù hợp cho dải tần rộng. Đặc tính điện từ của vật liệu được biểu diễn thông qua các tham số điện môi và từ thẩm, mô tả khả năng lưu trữ và tiêu hao năng lượng khi tương tác với trường điện từ.
Luận án đề xuất hai nhóm phương pháp chính. Thứ nhất, phương pháp sử dụng kỹ thuật đường truyền vi dải, bao gồm mô hình một đường truyền và hai đường truyền vi dải. Các mô hình này đã được ứng dụng thành công để xác định tham số của vật liệu RO-4350B trong dải tần 0,5-12,5 GHz và FR4-KB-6160 trong dải 0,5-9,5 GHz. Đặc biệt, mô hình hai đường truyền vi dải cho thấy ưu điểm vượt trội so với mô hình cộng hưởng vòng vi dải, vì không yêu cầu biết trước hằng số điện môi của vật liệu nền. Thứ hai, luận án đề xuất phương pháp sử dụng sóng điện từ trong không gian tự do, với mô hình hóa và thuật toán độ phân giải cao để ước lượng tham số vật liệu ở băng tần X. Phương pháp này giúp giảm thiểu ảnh hưởng của các hiệu ứng phản xạ, tán xạ và nhiễu xạ, đặc biệt hiệu quả với các vật liệu có tổn hao điện môi thấp và giải quyết vấn đề pha khi chiều dày mẫu lớn hơn nhiều lần bước sóng. Các đóng góp này mang lại nền tảng thực tiễn quan trọng cho việc nghiên cứu, thiết kế và phát triển các mạch điện tử ở dải siêu cao tần.
Tải không giới hạn tất cả tài liệu, không cần chờ. Chỉ từ 199.000đ/tháng.
Xem gói hội viên